17
Nov
17. Nov. 2022
|
16:15
-
17:00
Vortrag Masterarbeit von Frau Y. Wang, Do. 17.11.2022, 16:15 Uhr
Entwicklung eines Gate-Treibers zur kombinierten Überwachung von temperatur- und feuchtigkeitsbedingter Degradation an Leistungshalbleitern (Seminarraum F 435)
Termin
17. Nov. 202216:15 - 17:00
